多功能分立器件测试系统 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

功率器件流水线全静态参数自动测试仪 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

分立器件测试仪系统 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

IGBT静态参数测试仪设备 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

半导体分立器件光耦适配器测试仪 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

晶体管直流参数测试仪设备 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

功率电子器件正向寿命试验系统 测试一个器件周期为80ms，依次测试完成22个器件后结束测试，之后自动切换到下一个设定电流下测试，直到测试完成。

碳化硅器件浪涌电流测试设备 主要是实现测试碳化硅器件在开通瞬间产生最大承受电流Ipp及在关断瞬间产生最大冲击电流IC的实验。

高压反偏设备 在设定电压（反偏电压一直加）下对22个器件的漏电流依次进行测试 在设定电压（反偏电压一直加）下对22个器件的漏电流依次进行测试

雪崩测试仪（电压耐量测试设备） 设备满足电压在5000V及以下范围内二极管、三极管、MOS管及IGBT等器件的测试需求。计算机系统控制，具有波形显示功能。

半导体分立器件测试仪系统 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

特大功率碳化硅器件测试仪系统 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

分立器件测试系统 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

功率器件流水线全静态参数测试系统 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

SiC雪崩能力测试仪 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

功率器件流水线自动动化测试系统 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

电流耐量测试设备 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

SiC 功率器件动态参数测试系统 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

半导体分立器件测试系统 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

碳化硅器件动态参数测试台 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。